29.01.10

Heiße Ladungsträger beim Wachstum von Metallen

Mithilfe von Chemostrommessungen an Magnesium-Silizium-Dioden ist es gelungen nachzuweisen, dass bei der Kondensation von Metallatomen auf Oberflächen das elektronische System angeregt wird. Bringt man eine solche Diode vor einen thermischen Mg-Verdampfer mit entsprechender Temperatur ist ein Strom durch die Diode messbar. Die nebenstehende Abbildung zeigt, dass es gelungen ist die verschiedenen Stromanteile zu trennen und einen deutlichen Einfluss der Mg-Kondensation auf den Gesamtstrom nachzuweisen. mehr...

20.10.09

Ehrung für Hatice Karacuban

Hatice Karacuban (links im Bild) wurde für ihre Leistungen in Studium und Lehre ausgezeichnet... mehr

30.04.2009

Ohms Gesetz auf der Nanometerskala

Von Alexander Bernhart, Mark Kaspers,  Christian Bobisch und Rolf Möller

Mit Hilfe eines Rastertunnelmikroskops kann man neben der Topografie auch die Potentialverteilung von Oberflächen analysieren. Im nebenstehenden Bild ist oben die Topogragie einer Silber/Silizium-Oberfläche zu sehen. Das Inset zeigt, wie mit Hilfe von zwei Tunnelspitzen ein Strom durch diese Oberfläche geschickt wird. Eine Dritte Tunnelspitze kann dann simultan zum Topografiesignal eine entsprechende Potentiallandschaft aufzeichnen (Bild darunter, blau:0mV/rot:+6mV). So ist is gelungen Potentialsprünge und damit Widerstände atomarer Stufen und Korngrenzen mit quasi atomarer Ortsauflösung zu bestimmen.

Näheres dazu in Nano Letters 9, 1588 (2009).

28.11.2008

MIM Dioden mit BEEM vermessen

Von Alexander Bernhart, Mark Kaspers,  Christian Bobisch und Rolf Möller

Im Teilprojekt C1 ist es am Nanoprobe gelungen, den Transport heisser Ladungsträger durch MIM-Dioden zu messen. Die MIM-Dioden werden dabei im Nanoprobe kontaktiert, so dass mit einer der Tunnelspitzen heisse Ladungsträger injiziert werden können. Mit dieser Methode ist es möglich, die Transmission durch MIM-Dioden ortsaufgelöst zu bestimmen.

25.6.2008

Eigenbau Tieftemperatur-STM im Einsatz

von Hatice Karacuban, Johannes Schaffert und Rolf Möller

Unser Eigenbau-Rastertunnelmikroskop ist nun im Einsatz. Der von Röhrenpiezos angetriebene Scanner arbeitet bei Temperaturen von 6 bis 300K. So ist es möglich, molekulare Bewegungen einzufrieren und organische Systeme mit submolekularer Auflösung zu untersuchen. Geforscht wird derzeit an dem organischen Molekül Kupfer-Phthalocyanin (Kreuze im Bild links) auf einer Cu(111)-Oberfläche. Die Stabilität des Tieftemperatur-STM’s macht es zudem möglich, lokale I/V-Spektroskopie an Oberflächen und einzelnen Molekülen zu messen. Insbesondere interessieren wir uns z.B. für Oberflächenreaktionen auf atomarer und molekularer Skala.

6.3.2008

Organische Nanodrähte

Von Markus Fendrich, Manfred Lange und Rolf Möller

Das organische Molekül N,N’-Dimethylperylen-3,4,9,10-bis(dicarboximid) (DiMe-PTCDI) bildet auf Kaliumbromid-Oberflächen lange „Drähte“, die von den Stufenkanten des Substrates aus über die Terrassen wachsen. Das Bild links zeigt solche Drähte auf einer Fläche von 400 x 400 nm². Siehe auch: M. Fendrich and T. Kunstmann, Appl. Phys. Lett 91, 023101 (2007)

7.5.2007

Ergebnisse im SCIENCE-Magazin veröffentlicht

Von Amin Bannani, Christian Bobisch und Rolf Möller

Unter dem Titel "Ballistic Electron Microscopy of Individual Molecules" sind Experimente von Amin Bannani, Christian Bobisch und Prof. Dr. Rolf Möller im renommierten SCIENCE-Magazin veröffentlicht worden. Elektronische Schaltkreise werden immer kleiner, die Erwärmung durch die aufgenommene elektronische Leistung wird dabei zum Problem. Die leitenden Elektronen von ballistischen Strömen geben jedoch keine Energie an die Bauteile ab - vielleicht lässt sich so eine Lösung erzielen. Siehe auch: A. Bannani, Ch. Bobisch, R. Möller, Science 315, 1824 (2007)

11.4.2007

Hochauflösendes Elektronenspektrometer

Von David Krix, Kornelia Huba, Ulrich Hagemann und Hermann Nienhaus

Im Rahmen des SFB616-Projekt A1 wurde ein neues hochauflösendes Elektronenspektrometer mit Unterstützung der DFG beschafft und wurde nun erfolgreich in die bestehende Anlage zur Oberflächenuntersuchung eingefügt.